大家好，今天小編關(guān)注到一個(gè)比較有意思的話題，就是關(guān)于j*a自動(dòng)化測(cè)試腳本調(diào)用的問題，于是小編就整理了1個(gè)相關(guān)介紹j*a自動(dòng)化測(cè)試腳本調(diào)用的解答，讓我們一起看看吧。
1、一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試包括幾個(gè)部分？
自動(dòng)化測(cè)試的具體分類都有哪些？
功能自動(dòng)化測(cè)試
講到功能測(cè)試，不得不翻出非常出名的測(cè)試金字塔，
這里金字塔的頂端往下依次為：UI測(cè)試、集成測(cè)試、單元測(cè)試。
這里簡單對(duì)三個(gè)部分做一下簡介：
· UI測(cè)試：一般就是指我們產(chǎn)品、交互、UI、QA等相關(guān)人員，對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)收。
· 集成測(cè)試：在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求組裝成為子系統(tǒng)或系統(tǒng)，進(jìn)行集成測(cè)試。一般做的是接口測(cè)試。
· 單元測(cè)試：關(guān)注某一個(gè)函數(shù)，模塊的正確性，一般需要開發(fā)人員編寫相關(guān)的測(cè)試***碼來進(jìn)行測(cè)試。
這個(gè)金字塔在我理解，它主要表達(dá)以下幾個(gè)觀點(diǎn)：
· 測(cè)試越往底層，測(cè)試的效率越高，測(cè)試質(zhì)量保障程度越高
· 測(cè)試越往底層，測(cè)試的成本越低。因?yàn)榘l(fā)現(xiàn)bug越早，成本就越低。
一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試主要包括以下三個(gè)部分：
測(cè)試**和測(cè)試用例設(shè)計(jì)：這包括確定測(cè)試目標(biāo)、定義測(cè)試范圍、設(shè)計(jì)測(cè)試用例等。
自動(dòng)化測(cè)試腳本編寫：使用自動(dòng)化測(cè)試工具或編程語言，按照測(cè)試**和測(cè)試用例設(shè)計(jì)，編寫自動(dòng)化測(cè)試腳本。
執(zhí)行測(cè)試和結(jié)果分析：運(yùn)行自動(dòng)化測(cè)試腳本，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，包括測(cè)試通過率、失敗原因、性能瓶頸等。
希望這個(gè)回答能夠幫助***！還有其他問題嗎？
到此，以上就是小編對(duì)于j*a自動(dòng)化測(cè)試腳本調(diào)用的問題就介紹到這了，希望介紹關(guān)于j*a自動(dòng)化測(cè)試腳本調(diào)用的1點(diǎn)解答對(duì)大家有用。
