本篇文章給大家談?wù)凥IL自動(dòng)化測(cè)試工具，以及自動(dòng)化測(cè)試 功能測(cè)試對(duì)應(yīng)的知識(shí)點(diǎn)，希望對(duì)各位有所幫助，不要忘了收***本站喔。 今天給各位分享HIL自動(dòng)化測(cè)試工具的知識(shí)，其中也會(huì)對(duì)自動(dòng)化測(cè)試 功能測(cè)試進(jìn)行解釋?zhuān)绻芘銮山鉀Q***現(xiàn)在面臨的問(wèn)題，別忘了關(guān)注本站，現(xiàn)在開(kāi)始吧！
1、硬件在環(huán)仿真(HiL)測(cè)試介紹
實(shí)時(shí)性能：FPGA和多核實(shí)時(shí)仿真機(jī)的結(jié)合提供了接近真實(shí)的測(cè)試環(huán)境，縮短了測(cè)試周期。多場(chǎng)景覆蓋：系統(tǒng)支持各種工況模擬，全方位驗(yàn)證控制器穩(wěn)定性與魯棒性。參數(shù)優(yōu)化：自定義模型和實(shí)時(shí)參數(shù)調(diào)整，助力開(kāi)發(fā)者優(yōu)化控制器性能。閉環(huán)驗(yàn)證：HIL與實(shí)測(cè)結(jié)合，確?？刂破髟谀M與實(shí)際中的一致性。
發(fā)生此類(lèi)產(chǎn)品故障的公司可能將面臨經(jīng)濟(jì)處罰、品牌聲譽(yù)受損、***德譴責(zé)等方面的風(fēng)險(xiǎn)。硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試是一種預(yù)防性測(cè)試方***，軟件工程師和測(cè)試工程師借此可以評(píng)估現(xiàn)場(chǎng)無(wú)***重現(xiàn)的極端情況。企業(yè)也可以在設(shè)計(jì)初期就進(jìn)行測(cè)試并快速迭***，而不用等待生產(chǎn)測(cè)試，從而節(jié)省大量費(fèi)用和時(shí)間。
HiL（Hardware-in-the-Loop）硬件在環(huán)仿真測(cè)試系統(tǒng)是以實(shí)時(shí)處理器運(yùn)行仿真模型來(lái)模擬受控對(duì)象的運(yùn)行狀態(tài)，通過(guò)I/O接口與被測(cè)的ECU連接，對(duì)被測(cè)ECU進(jìn)行全方面的、系統(tǒng)的測(cè)試。
HIL仿真測(cè)試是一種功能***大的測(cè)試方***，可以用于更加有效的測(cè)試嵌入式控制系統(tǒng)。當(dāng)測(cè)試嵌入式控制系統(tǒng)時(shí)，從降低開(kāi)發(fā)時(shí)間和成本的目的上考慮，使用全系統(tǒng)進(jìn)行所有必要的測(cè)試是比較復(fù)雜的。
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